使用積(ji)分(fen)球(qiu)測試儀來測量光通量時，可使得測量結果更為可靠，積分球測試儀可降低并除去由光線地形狀、發散角度、及探測器上不同位置地響應度差異所造成地測量誤差。
光(guang)線(xian)由(you)輸(shu)入孔入射(she)(she)(she)(she)后(hou)，光(guang)線(xian)在(zai)此(ci)球(qiu)內(nei)部(bu)被均勻的(de)反射(she)(she)(she)(she)及漫(man)射(she)(she)(she)(she)，因(yin)(yin)此(ci)輸(shu)出孔所得到(dao)的(de)光(guang)線(xian)為(wei)相(xiang)當(dang)均勻的(de)漫(man)射(she)(she)(she)(she)光(guang)束(shu)。而且入射(she)(she)(she)(she)光(guang)的(de)入射(she)(she)(she)(she)角(jiao)度(du)(du)、空間(jian)分布、及極化皆不會對(dui)輸(shu)出的(de)光(guang)束(shu)強(qiang)(qiang)度(du)(du)及均勻度(du)(du)造成影響。也因(yin)(yin)為(wei)光(guang)線(xian)經(jing)過(guo)積(ji)分球(qiu)測(ce)試(shi)儀內(nei)部(bu)的(de)積(ji)分后(hou)才(cai)射(she)(she)(she)(she)出，因(yin)(yin)此(ci)積(ji)分球(qiu)測(ce)試(shi)儀亦(yi)可當(dang)作(zuo)(zuo)一光(guang)強(qiang)(qiang)度(du)(du)衰(shuai)減器(qi)。光(guang)線(xian)經(jing)過(guo)積(ji)分球(qiu)測(ce)試(shi)儀內(nei)部(bu)的(de)積(ji)分后(hou)才(cai)射(she)(she)(she)(she)出，因(yin)(yin)此(ci)積(ji)分球(qiu)測(ce)試(shi)儀亦(yi)可當(dang)作(zuo)(zuo)一光(guang)強(qiang)(qiang)度(du)(du) 衰(shuai)減器(qi)。
為何(he)要(yao)使用(yong)積分球測試儀?其使用(yong)時機為何(he)?
一(yi)般(ban)而言，光學擴(kuo)散片在小(xiao)心地使(shi)(shi)用狀況下(xia)，可(ke)降低量(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)時(shi)因偵測(ce)(ce)(ce)器(qi)上(shang)之(zhi)(zhi)入射光源不均(jun)勻分布(bu)或光束稍微偏移所造成之(zhi)(zhi)些(xie)微誤差，因而可(ke)提高量(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)之(zhi)(zhi)準確度(du);但是在更精(jing)密的量(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)時(shi)，您就(jiu)必(bi)(bi)須(xu)使(shi)(shi)用積分球測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)作(zuo)為光學擴(kuo)散器(qi)以(yi)使(shi)(shi)得上(shang)述(shu)之(zhi)(zhi)誤但是在更精(jing)密的量(liang)(liang)測(ce)(ce)(ce)時(shi)，您就(jiu)必(bi)(bi)須(xu)使(shi)(shi)用積分球測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)作(zuo)為光學擴(kuo)散器(qi)以(yi)使(shi)(shi)得上(shang)述(shu)之(zhi)(zhi)誤
使(shi)用積(ji)分(fen)球測(ce)(ce)試儀(yi)來量(liang)測(ce)(ce)光通量(liang)(Lumen)時，可使(shi)得(de)量(liang)測(ce)(ce)結果更為可靠;積(ji)分(fen)球測(ce)(ce)試儀(yi)可降低并(bing)除去因(yin)光線(xian)之(zhi)(zhi)形狀、發(fa)散角度(du)、 及偵測(ce)(ce)器上不同位(wei)置之(zhi)(zhi)響應度(du)差(cha)(cha)異所造成之(zhi)(zhi)量(liang)測(ce)(ce)誤差(cha)(cha)。
積分球測試儀(yi)亦可與分光(guang)儀(yi)搭配(pei)，將積分球測試儀(yi)的(de)(de)光(guang)輸出孔銜(xian)接于分光(guang)儀(yi)的(de)(de)入射光(guang)柵前(qian)，以(yi)確(que)保待(dai)測光(guang)源射入分光(guang)儀(yi)的(de)(de)角度皆相同:使得(de)量(liang)測的(de)(de)再現性大(da)幅的(de)(de)提高(gao)。
輔助光源:
直(zhi)(zhi)接固定于積(ji)(ji)分球(qiu)測試儀球(qiu)壁上,用來補償(chang)當(dang)待(dai)測物置入積(ji)(ji)分球(qiu)測試儀內部時(shi)，待(dai)測物本身所(suo)吸(xi)收的光譜曲線(xian)，一般(ban)輔助光源(yuan)為10瓦的鹵素燈泡，須注(zhu)意進行補償(chang)校正(zheng)時(shi)，輔助光源(yuan)之(zhi)光線(xian)不可直(zhi)(zhi)接照射到(dao)待(dai)測物。
這種測量方式被廣泛的應用于LED測量和各種燈具的測量中。 //relieved.cn/