主要介紹了安規(gui)(gui)綜(zong)合測試儀的具體構成，同(tong)時介紹了在(zai)使用安規(gui)(gui)校(xiao)準(zhun)器校(xiao)準(zhun)安規(gui)(gui)綜(zong)合測試儀過程(cheng)中需注意的事項。

用(yong)于高電(dian)壓元、器件的(de)耐(nai)壓測(ce)量試驗（用(yong)交、直流(liu)耐(nai)壓儀），如(ru)硅堆等。主要是(shi)用(yong)來檢(jian)測(ce)產品(pin)是(shi)否漏電(dian)、是(shi)否接地(di)良(liang)好、會不會傷害人(ren)身(shen)安全的(de)專用(yong)，主要檢(jian)測(ce)項目有(you)電(dian)壓、泄漏電(dian)流(liu)、絕緣電(dian)阻和接地(di)電(dian)阻。

注(zhu)意的是(shi)直流高壓(ya)輸出是(shi)負電(dian)壓(ya)，而地為正極。測試電(dian)容時(shi)，在電(dian)容器(qi)兩端加上電(dian)壓(ya)時(shi)有(you)(you)一充(chong)電(dian)過程，此(ci)時(shi)在測試電(dian)路中有(you)(you)一充(chong)電(dian)電(dian)流，當該電(dian)流大于所設定的漏電(dian)電(dian)流值時(shi)，耐(nai)壓(ya)測試儀(yi)就會報(bao)警(jing)，使測試中斷，無(wu)法進行。

因此，安規(gui)綜合測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(yi)在測(ce)試(shi)(shi)(shi)時，應(ying)緩慢(man)增加電(dian)(dian)(dian)壓，充電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)小于(yu)所設定(ding)的漏(lou)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)值，直到(dao)規(gui)定(ding)測(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓，進(jin)(jin)(jin)行測(ce)試(shi)(shi)(shi)。而不能采(cai)用(yong)固(gu)定(ding)電(dian)(dian)(dian)壓，復位-啟動(dong)方式進(jin)(jin)(jin)行測(ce)試(shi)(shi)(shi).在交(jiao)流(liu)回路(lu)(lu)中相當于(yu)直流(liu)回路(lu)(lu)中的電(dian)(dian)(dian)阻，因此，安規(gui)綜合測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(yi)在交(jiao)流(liu)回路(lu)(lu)中就產生一個電(dian)(dian)(dian)流(liu)，當該電(dian)(dian)(dian)流(liu)大于(yu)所設定(ding)的漏(lou)電(dian)(dian)(dian)流(liu)值時，耐壓測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(yi)就會報警，使得測(ce)試(shi)(shi)(shi)中斷(duan)，無法(fa)進(jin)(jin)(jin)行。

因此，在(zai)測(ce)(ce)試(shi)前，應先計算好電容器的容抗(kang)（Xc），再(zai)算出(chu)在(zai)測(ce)(ce)試(shi)電壓下的回路電流(liu)(liu)值(zhi)，然后調節耐壓測(ce)(ce)試(shi)儀漏電流(liu)(liu)預置值(zhi)，使其略大于回路電流(liu)(liu)值(zhi)，再(zai)進行測(ce)(ce)試(shi)。J）測(ce)(ce)試(shi)電纜等分布電容大的元(yuan)件（設備(bei)）要(yao)等同于電容器測(ce)(ce)試(shi)。        ;