安規綜合(he)測試系統，屬于AIP歐盛電子研發生產的一站式安規綜合測試設備，用于測試耐壓，接地，泄漏，絕緣，功率，低啟等項目。

1、 何謂耐壓測試?

耐壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)是常(chang)見的(de)(de)安(an)規(gui)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)之一，常(chang)見的(de)(de)dielectric withstand、high potential、hipot test都是指(zhi)耐壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。耐壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)主要目的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)DUT(Device under Test)的(de)(de)絕緣(yuan)(yuan)能力(li)。故當設備在運(yun)作時，對測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)點施(shi)以一高壓，測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)是否有絕緣(yuan)(yuan)破壞(Breakdown)或電(dian)氣閃絡(Flashover/ARC)發生。

2 、在安(an)規(gui)中絕緣(yuan)有(you)幾種類(lei)型?

絕(jue)緣(yuan)(yuan)類型分(fen)為四種：基本絕(jue)緣(yuan)(yuan)(Basic)、輔(fu)助絕(jue)緣(yuan)(yuan)(Supplementary)、雙重絕(jue)緣(yuan)(yuan)(Double)以及(ji)加強絕(jue)緣(yuan)(yuan)(Reinforced)。由於產(chan)品內部可能(neng)因灰(hui)塵(chen)過多(duo)、潮濕或(huo)是其他(ta)原因導致沿(yan)面放電，因此(ci)也須以耐壓測(ce)試判(pan)斷產(chan)品內部電路設計(ji)是否有沿(yan)面距離或(huo)絕(jue)緣(yuan)(yuan)不足(zu)等問題。

3 、在AC耐壓測試時(shi)，為何需要(yao)real current 的(de)判斷(duan)？

AC輸(shu)出總電(dian)流(liu)(liu)(total current)可能因(yin)部份內部容(rong)抗而造成(cheng)與(yu)真實測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)(liu)(real current)之間的差(cha)異。電(dian)流(liu)(liu)在輸(shu)出時，若(ruo)受到較大(da)容(rong)抗時，反(fan)應(ying)電(dian)流(liu)(liu)(reactive)會(hui)較大(da)，而使(shi)得(de)真實測(ce)試(shi)電(dian)流(liu)(liu)相對變小。若(ruo)無法準確測(ce)量輸(shu)出電(dian)流(liu)(liu)與(yu)加以補償，會(hui)造成(cheng)測(ce)試(shi)上的盲點。

4 、在(zai)DC耐壓測試時，為何需要緩升時間？

DC耐壓測試(shi)通常會(hui)需要(yao)加(jia)上緩(huan)升(sheng)時(shi)間以及放電(dian)(dian)時(shi)間，因為(wei)(wei)大多的(de)DUT具有電(dian)(dian)容性而(er)(er)會(hui)導致充(chong)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流產生。為(wei)(wei)了使充(chong)電(dian)(dian)變位電(dian)(dian)流(charge current)穩定，需要(yao)緩(huan)升(sheng)時(shi)間來(lai)緩(huan)沖，才(cai)不(bu)會(hui)因充(chong)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流而(er)(er)導致漏電(dian)(dian)流過(guo)高，進而(er)(er)判斷為(wei)(wei)不(bu)良品(FAIL)。

5 、在做耐壓(ya)測試(shi)時，為何需(xu)要(yao)緩降時間(jian)？

耐壓(ya)測試(shi)會使DUT充(chong)電(dian)，因此在耐壓(ya)測試(shi)結束時須(xu)一(yi)段時間來進行放(fang)電(dian)，優良的耐壓(ya)測試(shi)設備會將(jiang)放(fang)電(dian)時間減至少(shao)，并且在未達放(fang)電(dian)標(biao)準前會明顯(xian)標(biao)示危(wei)險警(jing)告，以防止(zhi)測試(shi)人員不當接觸而受到電(dian)氣傷害。

6 、何謂flashover 電氣閃絡(luo)(ARC)?

安規標(biao)準(zhun)(zhun)中明顯指(zhi)出不(bu)(bu)得(de)有絕(jue)緣破壞(Breakdown)發生(sheng)，而部(bu)份安規標(biao)準(zhun)(zhun)更要(yao)求不(bu)(bu)得(de)有電(dian)(dian)氣閃絡(luo)(Flashover/ARC發生(sheng)，但并(bing)無測試標(biao)準(zhun)(zhun)。ARC是(shi)屬於電(dian)(dian)氣放電(dian)(dian)的一(yi)種，當(dang)ARC發生(sheng)時已表(biao)示絕(jue)緣能力已不(bu)(bu)足，若(ruo)多次的ARC發生(sheng)，則會(hui)導(dao)致絕(jue)緣破壞。

7 、為何需要(yao)做(zuo)電壓補償?

在(zai)耐(nai)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試中，測(ce)試電(dian)壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)標準是判斷(duan)良品(pin)的(de)(de)主要(yao)因素(su)之一(yi)。許多(duo)耐(nai)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試設(she)備以(yi)變壓(ya)(ya)(ya)器將(jiang)低電(dian)壓(ya)(ya)(ya)轉換為(wei)高電(dian)壓(ya)(ya)(ya)後輸(shu)出(chu)，但(dan)儀(yi)器的(de)(de)內部阻抗會造成分(fen)壓(ya)(ya)(ya)，尤(you)其在(zai)一(yi)些(xie)品(pin)質不(bu)良的(de)(de)耐(nai)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試設(she)備中，實(shi)際輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)無(wu)法達到安規標準。為(wei)避免失(shi)誤判定為(wei)良品(pin)而造成不(bu)必(bi)要(yao)的(de)(de)困擾，優(you)良的(de)(de)耐(nai)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試設(she)備會以(yi)自動增(zeng)益補償(Auto Gain Compensation)修正與(yu)補償電(dian)壓(ya)(ya)(ya)至所須電(dian)壓(ya)(ya)(ya)值，并將(jiang)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)表(biao)設(she)計於輸(shu)出(chu)端，以(yi)便(bian)正確量測(ce)輸(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)是否不(bu)足。

8 、何謂接地阻抗測(ce)試?

接地(di)(di)保(bao)護有二種測(ce)(ce)試(shi)方法：接地(di)(di)連續測(ce)(ce)試(shi)(Ground Continuity test, GC)及(ji)接地(di)(di)連接測(ce)(ce)試(shi)(Ground Bond test, GB)。接地(di)(di)保(bao)護測(ce)(ce)試(shi)的(de)目的(de)在於不讓使用者在不當電(dian)(dian)(dian)流(liu)產生時，電(dian)(dian)(dian)流(liu)會(hui)流(liu)向大(da)地(di)(di)，接觸機體則不會(hui)導致(zhi)電(dian)(dian)(dian)氣(qi)危害(hai)。

9 、何謂絕緣阻抗測試?

絕(jue)緣(yuan)(yuan)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)試(shi)和(he)直(zhi)(zhi)流耐壓測(ce)(ce)試(shi)是(shi)非常相似(si)的，於(wu)相關連(lian)的兩點施以直(zhi)(zhi)流電壓(50~1000V)，可判定良(liang)品(pin)(pin)及不良(liang)品(pin)(pin)。絕(jue)緣(yuan)(yuan)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)試(shi)為非破壞試(shi)驗，且能偵測(ce)(ce)絕(jue)緣(yuan)(yuan)是(shi)否良(liang)好，在(zai)某些規(gui)范中，是(shi)先做絕(jue)緣(yuan)(yuan)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)試(shi)再進行耐壓測(ce)(ce)試(shi)，而絕(jue)緣(yuan)(yuan)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)試(shi)無(wu)法(fa)通過(guo)時，往(wang)往(wang)耐壓測(ce)(ce)試(shi)也(ye)無(wu)法(fa)通過(guo)。

10、 何謂漏電流?

當電(dian)流經(jing)(jing)過絕緣(yuan)阻(zu)抗後溢出，稱之為(wei)漏(lou)電(dian)流(Leakage current)，當漏(lou)電(dian)流經(jing)(jing)由人體接觸(chu)，使電(dian)流經(jing)(jing)過人體後流向(xiang)Earth，即造成電(dian)氣(qi)傷(shang)害。漏(lou)電(dian)流測試與耐壓(ya)測試、接地保(bao)護測試的不同(tong)處，在於設備(bei)是在運作狀態下做測試。漏(lou)電(dian)流測試中會加上一個(ge)人體模擬(ni)阻(zu)抗電(dian)路，可(ke)模擬(ni)在真(zhen)實情(qing)況下漏(lou)電(dian)流經(jing)(jing)過人體的大小。      ;

中山市新儀電子儀器有限公司，自1998年成立以來，旺和電子儀表行歷經21年，現已成立新儀電子儀器有限公司從事各類檢測儀器、設備的銷售和服務，公司一向貫徹“質量保證、價格合理、服務好、用戶至上”的原則，本著“誠信、專業、服務、發展”的經營方針，竭誠為廣大用戶服務。         //relieved.cn/