即檢測(ce)元(yuan)素以外的元(yuan)素統稱(cheng)為基體(ti)(ti)，而且(qie)往(wang)往(wang)基體(ti)(ti)成分是(shi)變(bian)化(hua)的，包括元(yuan)素的變(bian)化(hua)和含量的變(bian)化(hua)，由于基體(ti)(ti)成份的不(bu)同(tong)，待測(ce)元(yuan)素特征X射(she)(she)線(xian)強度是(shi)不(bu)同(tong)的，基體(ti)(ti)效(xiao)應是(shi)X射(she)(she)線(xian)熒光定量分析(xi)的主要(yao)誤差來源之一(yi)。而本文下面將詳細分析(xi)一(yi)下基體(ti)(ti)效(xiao)應，

實際工作中(zhong)被測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)樣品，往(wang)往(wang)其(qi)成(cheng)份是(shi)(shi)(shi)由(you)多(duo)種元(yuan)素組成(cheng)，除待(dai)測(ce)(ce)元(yuan)素以外的(de)(de)元(yuan)素統(tong)稱為(wei)基(ji)體。由(you)于被測(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)樣品中(zhong)，其(qi)基(ji)體成(cheng)份是(shi)(shi)(shi)變化(hua)的(de)(de)（這個變化(hua)一是(shi)(shi)(shi)指元(yuan)素的(de)(de) 變化(hua)，二是(shi)(shi)(shi)指含量(liang)(liang)的(de)(de)變化(hua)），它直接影響待(dai)測(ce)(ce)元(yuan)素特征(zheng)(zheng)X射線(xian)(xian)強(qiang)度(du)的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)。換句話說，待(dai)測(ce)(ce)元(yuan)素含量(liang)(liang)相(xiang)同，由(you)于其(qi)基(ji)體成(cheng)份不同，測(ce)(ce)量(liang)(liang)到的(de)(de)待(dai)測(ce)(ce)元(yuan)素特征(zheng)(zheng)X射線(xian)(xian)強(qiang)度(du) 是(shi)(shi)(shi)不同的(de)(de)，這就是(shi)(shi)(shi)基(ji)體效(xiao)應(ying)。基(ji)體效(xiao)應(ying)是(shi)(shi)(shi)X射線(xian)(xian)熒光定量(liang)(liang)分析的(de)(de)主要(yao)誤差(cha)來源之一。

基體效(xiao)應是(shi)個無法避免的(de)客觀事實，其物(wu)理實質是(shi)激發（吸收(shou)）和散(san)射(she)(she)造成特征(zheng)(zheng)X射(she)(she)線(xian)強度的(de)變化(hua)，除待(dai)(dai)測(ce)元素(su)(su)(su)(su)外，基體成份中靠近待(dai)(dai)測(ce)元素(su)(su)(su)(su)的(de)那些(xie)元素(su)(su)(su)(su)對(dui)激發源(yuan)的(de) 射(she)(she)線(xian)和待(dai)(dai)測(ce)元素(su)(su)(su)(su)特征(zheng)(zheng)X射(she)(she)線(xian)產生光電效(xiao)應的(de)幾(ji)率(lv)比(bi)輕(qing)元素(su)(su)(su)(su)（在地(di)質樣品中一些(xie)常(chang)見的(de)主要造巖元素(su)(su)(su)(su)）的(de)幾(ji)率(lv)大(da)得(de)多(duo)，也(ye)就是(shi)這些(xie)鄰近元素(su)(su)(su)(su)對(dui)激發源(yuan)發射(she)(she)的(de)X射(she)(she)線(xian)和待(dai)(dai) 測(ce)元素(su)(su)(su)(su)的(de)特征(zheng)(zheng)X射(she)(she)線(xian)的(de)吸收(shou)系數比(bi)輕(qing)元素(su)(su)(su)(su)大(da)得(de)多(duo)；輕(qing)元素(su)(su)(su)(su)對(dui)激發源(yuan)放(fang)出的(de)射(she)(she)線(xian)和待(dai)(dai)測(ce)元素(su)(su)(su)(su)的(de)特征(zheng)(zheng)X射(she)(she)線(xian)康普頓散(san)射(she)(she)幾(ji)率(lv)比(bi)重(zhong)元素(su)(su)(su)(su)大(da)得(de)多(duo)。

為了(le)敘述方(fang)便，假(jia) 設樣品中存在待測元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)A，相鄰元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)B、C和(he)輕元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)。B元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)比A元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)大一些，B元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)能被放(fang)(fang)射(she)(she)源(yuan)放(fang)(fang)出的(de)(de)射(she)(she)線所激(ji)發(fa)產生(sheng)(sheng)B元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)特(te)征X射(she)(she)線 BK,BKX射(she)(she)線又能激(ji)發(fa)A元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)；C元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)小于待測元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)A的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)，且能被A元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)特(te)征X射(she)(she)線所激(ji)發(fa)產生(sheng)(sheng)C元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)特(te)征X射(she)(she)線；輕元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)測距 A、B、C元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)的(de)(de)原(yuan)子(zi)(zi)序(xu)數(shu)(shu)較遠，被激(ji)發(fa)的(de)(de)幾率(lv)很小，可以(yi)忽略(lve)不計，那么對(dui)待測元(yuan)(yuan)素(su)(su)(su)A特(te)征X射(she)(she)線強度的(de)(de)影響(xiang)有以(yi)下(xia)幾個方(fang)面：

1) 放(fang)射(she)源放(fang)出的射(she)線激發待測元素A，產生特征(zheng)X射(she)線AK線稱(cheng)為光電(dian)效應(ying)。led光譜分析儀價格

2) AKX線(xian)在(zai)出射樣品時(shi)遇到C元素激(ji)發了C元素特征X射線(xian)CK而A元素特征X射線(xian)強(qiang)度減小了，稱為吸收(shou)效應。

3) 放射(she)源激發(fa)了(le)B元素，BKX線又激發(fa)了(le)A元素，使A元素特征X射(she)線計(ji)數增加(jia)，稱為增xx應，又稱為二次熒光。

4) 放射源激發(fa)了(le)元(yuan)素C和(he)元(yuan)素B，使得(de)激發(fa)元(yuan)素A幾率減小。

5) 放射源(yuan)放出的射線與(yu)輕元素(su)相互(hu)作用(yong)發(fa)生(sheng)康普頓(dun)效(xiao)應(ying)，可(ke)能發(fa)生(sheng)一次康普頓(dun)效(xiao)應(ying)也(ye)(ye)可(ke)能發(fa)生(sheng)多次康普頓(dun)效(xiao)應(ying)，發(fa)生(sheng)康普頓(dun)效(xiao)率(lv)之后射線能量損失一部分在出射樣品路(lu)程中可(ke)能會激發(fa)元素(su)A、B、C，也(ye)(ye)可(ke)能不發(fa)生(sheng)作用(yong)，稱(cheng)為康普頓(dun)效(xiao)應(ying)。

以上只是描繪了一個簡單的圖象，實際上X射線的吸收、增強、散射過程要復雜得多。若待測元素與標準的基體成份不一致，必然會使分析結果出現較大誤差。這就是吸收效應、增xx應、散射效應影響，統稱為基體效應。         //relieved.cn/