安(an)規綜合測(ce)試(shi)儀(yi)用于高電壓元、器件的耐壓測量試驗（用交、直流耐壓儀），如硅堆等。主要是用來檢測產品是否漏電、是否接地良好、會不會傷害人身安全的專用，主要檢測項目有電壓、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻。安規綜合就是產品認證中對產品安全的要求，包含產品零件的安全的要求、組成成品后的安全要求。

安(an)規綜(zong)合(he)也就(jiu)是安(an)全(quan)標準規格，安(an)規綜(zong)合(he)對(dui)制造(zao)的(de)裝置與(yu)電(dian)組件有明確的(de)陳(chen)述(shu)與(yu)指導，以提(ti)供(gong)具有安(an)全(quan)與(yu)高品質(zhi)的(de)產品給終端使用者；其目的(de)主要是用來(lai)防止electricshock， energy hazards， fire， mechanical and heat hazards， radiation hazards，chemical hazards等對(dui)人體造(zao)成(cheng)的(de)傷害.

一般地(di)，每一個(ge)國家都可(ke)以建立自己本(ben)國的(de)(de)電氣安(an)全標(biao)準，但是大多數的(de)(de)電源供給器制造廠商都是使用IEC，VDE，UL，CSA安(an)全標(biao)準作(zuo)為(wei)解決安(an)全之需求.UL與VDE的(de)(de)安(an)全標(biao)準有本(ben)質上的(de)(de)差異(yi)，UL規(gui)(gui)格比較集中(zhong)在防止失火(huo)的(de)(de)危(wei)險，而VDE規(gui)(gui)格則比較關于(yu)操作(zuo)人員的(de)(de)安(an)全，對于(yu)電源供給器而言(yan)，VDE乃是較嚴(yan)厲(li)的(de)(de)電氣安(an)全標(biao)準.

安規綜(zong)合政策(ce):高壓測試(shi)和接(jie)地測試(shi)零缺點.

安規綜合測(ce)(ce)試儀(yi)用(yong)于高電(dian)壓(ya)(ya)元器(qi)件、家電(dian)，電(dian)器(qi)等(deng)安全性能的耐(nai)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量試驗(yan)（用(yong)交、直流(liu)耐(nai)壓(ya)(ya)儀(yi)。主要是(shi)用(yong)來檢(jian)測(ce)(ce)產(chan)品是(shi)否(fou)漏電(dian)、是(shi)否(fou)接(jie)地(di)良(liang)好、會不會傷害人身安全的專用(yong)設備，主要檢(jian)測(ce)(ce)項目(mu)有耐(nai)電(dian)壓(ya)(ya)強度、電(dian)流(liu)、絕緣電(dian)阻和接(jie)地(di)電(dian)阻。

安規綜合測試(shi)儀測試(shi)項目(mu)：

1、耐壓測試：

Dielectric Voltage withstand test高壓測試(shi)為(wei)一(yi)種國際安(an)規綜合認證機構所(suo)要求的(de)(de)(de)必(bi)測項目，產(chan)品(pin)須于出廠前做(zuo)百分(fen)比的(de)(de)(de)測試(shi)，它對產(chan)品(pin)而(er)言，為(wei)品(pin)質的(de)(de)(de)保證及電(dian)氣(qi)安(an)全性的(de)(de)(de)指標，其測試(shi)方(fang)式(shi)是將一(yi)高于正常工(gong)作電(dian)壓的(de)(de)(de)異常電(dian)壓加在產(chan)品(pin)上測試(shi)，并(bing)且這個電(dian)壓須持續一(yi)段時間，{zh1}判定只(zhi)要無絕緣崩(beng)潰情形，即可算是通(tong)過此測試(shi)。

耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)是最常見(jian)的(de)安規綜合(he)測(ce)試(shi)(shi)之(zhi)一，常見(jian)的(de)dielectric withstand、high potential、hipot test都是指(zhi)耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)。耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)的(de)主(zhu)要目(mu)的(de)測(ce)試(shi)(shi)DUT(Device under Test)的(de)絕緣能力(li)。故當設(she)備在運作(zuo)時(shi)，對測(ce)試(shi)(shi)點施(shi)以一高壓(ya)，測(ce)試(shi)(shi)是否有絕緣破壞(Breakdown)或(huo)電(dian)氣閃絡(luo)(Flashover/ARC)發生。

耐電壓測試的(de)實(shi)質是在被(bei)測產品電氣上本不連接的(de)兩部分間施(shi)加一段(duan)時間的(de)同頻高壓，以檢(jian)驗有無(wu)絕緣崩潰。

測(ce)(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)(ya)須(xu)參照各(ge)相關的(de)安規綜(zong)合標準并視工作(zuo) 電(dian)壓(ya)(ya)及絕緣等級而定，通常(chang)使(shi)用(yong)交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)(ya)，若有電(dian)容器(qi)類零件橫跨于待測(ce)(ce)絕緣上，則建議使(shi)用(yong)直流(liu)電(dian)壓(ya)(ya)做測(ce)(ce)試(shi)，但(dan)測(ce)(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)(ya)須(xu)為1.414倍的(de)交(jiao)流(liu)測(ce)(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)(ya)。

耐壓(ya)測試是電氣(qi)安(an)規綜合測試中較主要(yao)的項目之(zhi)一， 所(suo)有的電氣(qi)組(zu)件(jian)及產品，包含變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)、電容、電源供應器(qi)(qi)、充電器(qi)(qi)、家電產品等，皆需(xu)要(yao)進行耐壓(ya)測試。

2、絕緣阻抗測試

Insulation resistance test絕緣阻抗(kang)于相關的兩點施加直(zhi)流(liu)電壓，{zg}可(ke)達(da)1000伏特，通常使用單位為(wei)歐姆，可(ke)判定良(liang)品及(ji)不良(liang)品。

絕緣(yuan)(yuan)類型分為四種：基本絕緣(yuan)(yuan)(Basic)、輔(fu)助絕緣(yuan)(yuan)(Supplementary)、雙(shuang)重絕緣(yuan)(yuan)(Double)以(yi)及加強絕緣(yuan)(yuan)(Reinforced)。由(you)於產品(pin)(pin)內(nei)部(bu)可能因(yin)灰塵過多(duo)、潮濕或是(shi)其他原因(yin)導致(zhi)沿(yan)面放(fang)電，因(yin)此也(ye)須(xu)以(yi)耐壓測試判斷產品(pin)(pin)內(nei)部(bu)電路設計是(shi)否有沿(yan)面距離或絕緣(yuan)(yuan)不足等問題。

絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)和(he)直流耐(nai)(nai)壓測(ce)試(shi)是非(fei)(fei)常(chang)相似(si)的(de)，于耐(nai)(nai)壓相同的(de)兩點(dian)施以直流電(dian)壓，{zg}可達1000伏特(te)，通常(chang)使用單位(wei)為MΩ，可判定良(liang)(liang)品(pin)及不良(liang)(liang)品(pin)，一般而言， 測(ce)試(shi)電(dian)壓為500伏特(te)或(huo)1000伏特(te)，絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)不得(de)小于10MΩ。絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)為非(fei)(fei)破壞(huai)試(shi)驗，且能(neng)偵(zhen)測(ce)絕(jue)緣(yuan)是否(fou)良(liang)(liang)好(hao)，在(zai)某些規范中，是先(xian)做絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)再進(jin)行耐(nai)(nai)電(dian)耐(nai)(nai)壓測(ce)試(shi)，而絕(jue)緣(yuan)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)無法(fa)通過(guo)時，往(wang)往(wang)耐(nai)(nai)電(dian)壓測(ce)試(shi)也無法(fa)通過(guo)。

3、接地阻抗(kang)測試(shi)

Ground bond test接(jie)地(di)阻抗(kang)測(ce)試(shi)為(wei)測(ce)試(shi)產(chan)(chan)品(pin)的接(jie)地(di)點，對產(chan)(chan)品(pin)的外(wai)殼或者金屬部分，施加一個恒流電源來測(ce)試(shi)兩點間的阻抗(kang)大(da)小，一般產(chan)(chan)品(pin)規定測(ce)試(shi)25安(an)(an)培(pei)，阻抗(kang)不(bu)得(de)大(da)于(yu)0.1歐姆，而CSA則要求量測(ce)40安(an)(an)培(pei)檢(jian)測(ce)，可檢(jian)測(ce)出接(jie)地(di)點螺絲未鎖(suo)緊，接(jie)地(di)線徑太小，接(jie)地(di)線路(lu)斷路(lu)等問題

接(jie)地阻抗測(ce)(ce)試(shi)(shi)為(wei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)產(chan)(chan)品的(de)接(jie)地點(dian)(dian)，對產(chan)(chan)品的(de)外(wai)殼 或金(jin)屬(shu)部份(fen)，施以一個恒流(liu)(liu)(一般電流(liu)(liu)在(zai)10-40A之間(jian)) 電源來測(ce)(ce)試(shi)(shi)兩點(dian)(dian)間(jian)的(de)阻抗大小(xiao)，一般產(chan)(chan)品規定量測(ce)(ce)25A，阻抗不得大于0.1Ω而CSA要求量測(ce)(ce)40A，以此測(ce)(ce)試(shi)(shi)，可檢測(ce)(ce)出接(jie)地點(dian)(dian)螺(luo)絲(si)未鎖緊(jin)、接(jie)地線徑太小(xiao)、 接(jie)地線斷路等問題。

4、電流測(ce)試

Touch current test是指(zhi)當設備(bei)供應電流(liu)(liu)時，流(liu)(liu)經設備(bei)金屬(shu)可接觸部(bu)分經人體(ti)至(zhi)接地部(bu)分或可接觸部(bu)分的電流(liu)(liu)。

電流測試意指，當設備供應電壓時，流經設備 金屬可接觸部份經人體至接地部份或可接觸部份的電流。量測時須使用人體仿真線路MD，并聯電壓表，其MD依不同的產品安規綜合標準有不同的人體仿真線路，而測試電壓為最不利的輸入電壓，一般訂額定電壓上限為測試電壓。        //relieved.cn/